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膜厚校準片都有哪些規(guī)格?

更新時間:2022-05-24      瀏覽次數(shù):1551
  膜厚校準片用于X射線測厚儀,在測量金屬鍍層厚度和建立測試檔案時的標準化校準。即膜厚測試中常用的標準曲線法是測量已知厚度或成分的標準樣品,根據(jù)熒光X射線能量強度與相應(yīng)涂層厚度的對應(yīng)關(guān)系得到標準曲線。該標準曲線用于測量涂層樣品以獲得涂層厚度或組成比。使用測厚儀檢測質(zhì)量和控制成本,在PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)揮著非常重要的作用。
  
  膜厚校準片適用于實驗室、生產(chǎn)線和現(xiàn)場。方便的是在基材、表面處理或形狀上建立涂層厚度標準,是調(diào)整涂層測厚儀(薄膜測厚儀)校準,減少測量誤差,保證精度的理想方法。每個校準件都有一個序列號,可以追溯到原廠。校準片規(guī)格有:12.5微米µm、25微米、50微米、75微米、125微米、175微米、250微米、500微米、1000微米;(實際膜厚值會略有不同,具體數(shù)值會標注在每一片校準片的標簽上)。
  
  膜厚校準片應(yīng)用領(lǐng)域:
  
  1、檢測電子電鍍、五金電鍍、PCB板、led支架等電鍍層的厚度。
  
  2、測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳、鋅鎳合金等。
  
  3、實測鍍層范圍:0.03μm~35μm。
  
  4、可測量單層、雙層、多層及合金鍍層,不限于基材。
  
  5、被測鍍層種類有:鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳、鍍鋅鎳合金等。
  
  6、可測量單層、雙層、多層及合金鍍層,不限于基材。
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