涂層測厚儀采用磁測和渦流兩種測厚方法

　　涂層厚度的測量方法主要有：楔形切割法、光切割法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁測量法和渦流測量法等。這些方法中的前五種是破壞性測試。涂層測厚儀采用磁測和渦流兩種測厚方法，可無損測量磁性金屬基材（如鋼、鐵、合金、硬磁鋼）上非磁性涂層（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）的厚度?？蛇M行零點校準和兩點校準，探頭的系統(tǒng)誤差可通過基本校準方法進行校正。
 

　　1、精度高：測量范圍0-2000um，精度≤±（3%）讀數(shù)+2μm），測量數(shù)據與進口涂層測厚儀一致。

　　2、綜合測量：可以無損測量磁性基體上非磁性涂層的厚度和非磁性基體上非導電涂層的厚度。

　　3、操作簡單：0.5秒快速測量，無需校準，只需調零，只需按鍵，操作非常簡單。

　　4、體積?。褐鳈C與探頭一體化設計，體積小，便于手持攜帶。

　　5、使用壽命長：探頭采用紅寶石探頭，極耐磨耐腐蝕，可確保儀器長期有效使用。

　　涂層測厚儀有兩種測量模式：連續(xù)測量模式和單次測量模式。它有兩種工作模式：直接模式和組模式。具有刪除功能：刪除測量中的單個可疑數(shù)據，或刪除存儲區(qū)中的所有數(shù)據重新測量。

　　涂層測厚儀測量原理：

　　1、磁性測厚法：當探頭與金屬基體表面的涂層接觸時，由于非磁性涂層的存在，探頭與磁性金屬基體形成閉合磁路。涂層的厚度可以通過測量磁路磁阻的變化來計算。

　　2、渦流測厚法：利用高頻交流電在線圈中產生的電磁場，當探頭與鍍層接觸時，在金屬基體上產生渦流并對線圈產生反饋作用。涂層的厚度可以通過測量反饋效應的大小得出。